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EM Micro Probes | Chip Scanner (modified probe station) | Oscilloscope | Low Noise Amplifier | PCB Test Fixtures with Probe Positioning System | EM Probes | Active Differential Probes awarded

Veroeffentlicht
16.09.2025
Frist
-
Art
can-standard
Geschaetzter Wert
-
Land
DE
IT-Relevanz
★★☆☆☆ (2/5)
Hardware-Relevanz
★★☆☆☆ (2/5)
Vergabedatum
02.09.2025
Region (NUTS)
DE212 (Bayern)
CPV-Codes
Elektronische Messgeräte Sonden für Ultraschalldesintegratoren Chromatografische Scanner Oszilloskope Verstärker Laborwerkzeugträger Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Quelle
ted_europa | Originalquelle ↗
Notice ID
603509-2025

Beschreibung

EM Micro Probes | Chip Scanner (modified probe station) | Oscilloscope | Low Noise Amplifier | PCB Test Fixtures with Probe Positioning System | EM Probes | Active Differential Probes

Lose (7)

Los Titel Auftragnehmer Schaetzwert Vergabewert
1 EM Micro Probes Langer EMV-Technik GmbH
2 Chip Scanner (modified probe station) bsw TestSystems & Consulting AG
3 Oscilloscope Teledyne GmbH
4 Low Noise Amplifier Langer EMV-Technik GmbH
5 PCB Test Fixtures with Probe Positioning System dataTec AG
6 EM Probes Langer EMV-Technik GmbH
7 Active Differential Probes Teledyne GmbH

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