Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung sowohl eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung der kristallographischen Eigenschaften verschiedener Materialien wie Glas, Saphir oder diverser Halbleiter sowie eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie sowie der elektrischen Eigenschaften verschiedener Materialien, wie Glas, Saphir oder diverse Halbleiter. Es werden nur Angebote berücksichtigt, die beide Artikel vom gleichen Hersteller beinhalten. Weitere Details siehe Leistungsverzeichnis. Eignungskriterien: - Umsatz der letzten zwei Jahre (2024, 2025) - Der Anbieter hat Referenzen für jeweils zwei funktionstüchtige, vergleichbare Systeme nachzuweisen - Nachweis zur Möglichkeit der einfachen Durchführung korrelativer Messungen zwischen AFM- und Raman-System Zuschlagskriterien: - Erfüllung der Spezifikationen: 55% - Preis: 35% - Nachhaltigkeit (Stromverbrauch): 10% Bewertung erfolgt nach einer metrischen Bewertungsskala.